KEYSIGHT NX5730A Высокопроизводительное тестовое решение для импульсных измерений ВАХ схем памяти с разрешением 1 нс 326698

Keysight NX5730A Высокопроизводительное тестовое решение для импульсных измерений ВАХ схем памяти с разрешением 1 нс от Keysight — решение из линейки Осциллографы, анализаторы, измерители, которое объединяет надежность и высокие эксплуатационные характеристики. Компания Keys-Russia.ru поставляет решения, адаптированные под разные условия эксплуатации и задачи клиентов

Преимущества работы с нами:

• Отгружаем оборудование в кратчайшие сроки по всей стране
• Прямые поставки и оптимальные сроки доставки
• Прозрачные условия сотрудничества
• Сертифицированная продукция без подделок
• Консультации и техническая поддержка на всех этапах

• Быстрое и точное определение характеристик современных устройств памяти, например, магниторезистивной оперативной памяти на эффекте переноса спинового момента электрона (STT-MRAM), от измерений на постоянном токе до быстрых импульсных измерений ВАХ на кремниевых пластинах
• Приложение калиброванных значений импульсного напряжения (с импульсами длительностью от 1 нс) к магнитному туннельному переходу (MTJ) памяти STT-MRAM и точное измерение сопротивления MTJ
• Выполнение всех типовых тестов для определения параметров магнитного туннельного перехода с помощью одного решения
• В 10-100 раз меньшее время выполнения циклических испытаний, например, тестов по определению частоты появления ошибочных битов (BERT)
• Захват и отображение сигналов переключения магнитного туннельного перехода на протяжении импульса записи
• Специализированное решение на основе знаний и опыта компании Keysight Technologies